书目详细信息
： 可靠性物理与工程:失效时间模型
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-038824-7:CNY80.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 可靠性物理与工程/.(美)J. W. 麦克弗森著/.秦飞[等]译 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2013 |
| 载体形态项： | 245页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书以材料/器件退化为主线，系统总结了集成电路与电子器件、机械零部件等的典型失效模式，并着重阐述失效的物理机理，提出具有普适性的、简单实用的失效时间预测模型。 |
| 并列题名： | Realiability physics and engineering eng |
| 题名主题： | 电子元件 可靠性 失效分析 |
| 题名主题： | 电子元件 |
| 题名主题： | 可靠性 |
| 题名主题： | 失效分析 |
| 中图分类： | TN6 |
| 个人名称等同： | 麦克弗森 (美) (McPherson, J. W.) 著 |
| 个人名称次要： | 秦飞 译 |
| 记录来源： | CN 许昌职业技术学院图书馆 20150121 |