书目详细信息
： 空间单粒子效应:影响航天电子系统的危险因素
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-28197-6:CNY79.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 空间单粒子效应/.(美) Edward Petersen著/.韩郑生等 译 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2016 |
| 载体形态项： | 11, 303页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 国防电子信息技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。 |
| 题名主题： | 单粒子态 |
| 中图分类： | O571.2 |
| 个人名称等同： | 彼得森 著 |
| 个人名称次要： | 韩郑生 译 |
| 个人名称次要： | 沈自才 译 |
| 个人名称次要： | 丁义刚 译 |
| 记录来源： | CN 许昌职业技术学院图书馆 20161207 |